近日,一家专注 AI 芯片研发的企业完成了一次关键设备升级 —— 批量订购的勤卓三箱式高低温冷热冲击试验箱陆续完成生产与出厂检验,顺利交付并入驻其可靠性实验室。从方案确认、生产制造到出厂检验,双方技术团队围绕温度范围、样品容量与试验程序反复沟通确认,确保设备配置贴合芯片测试的实际需求。随着这批设备投入使用,该企业在芯片封装、板级模组及整机系统层面的温度冲击验证能力得到进一步补强,为新品研发与量产质量管控提供了更有力的试验支撑。

一、AI 芯片为何离不开冷热冲击测试?
AI 芯片在服务器、自动驾驶、边缘计算等场景中长期高负荷运行,芯片与基板、封装材料之间存在热膨胀系数差异,频繁的温度骤变极易引发焊点疲劳、封装分层、参数漂移等隐患。冷热冲击试验通过让样品在极高温与极低温之间快速交替,在较短时间内复现 “骤冷骤热” 工况,帮助研发团队提前暴露设计薄弱点。该类试验通常参照 JESD22、IEC 60068、GB/T 2423.22 等标准执行,试验结果的可靠性,很大程度上取决于冲击箱的温变速度、温场均匀性与运行稳定性。
二、三箱式结构:样品静止,冲击过程更可控
本次交付的勤卓三箱式高低温冷热冲击试验箱采用三箱式静态结构设计,高温区、低温区与测试区相互独立,测试样品固定在试验区,通过气动风门切换气流实现温度冲击。相比吊篮移动式结构,三箱式样品无需反复移动,更便于在冲击过程中开展带电测试与实时数据采集。设备温度冲击范围覆盖 - 40℃~+150℃,温区切换速度快、温度恢复及时,温度波动度与偏差控制可满足相关试验标准要求,并可执行 “高温 — 常温 — 低温” 三温区及 “高温 — 低温” 两温区试验,适配不同产品的测试需求。批量采购该设备的 AI 芯片研发团队,正是看中了勤卓三箱式高低温冷热冲击试验箱在结构稳定性与试验一致性方面的表现。

三、批量交付背后:产品力与服务体系的支撑
AI 芯片研发团队批量选择勤卓三箱式高低温冷热冲击试验箱,考察的是设备性能与交付服务的综合表现。勤卓品牌环境试验设备核心部件多采用进口品牌,压缩机选用比泽尔或泰康,电器件配置施耐德产品,为长时间、高强度的连续冲击试验提供了基础保障。在交付环节,勤卓安排专业工程团队完成设备就位、配电接线与系统调试,并对试验程序进行试运行验证,同时对操作人员进行现场培训,确保设备到岗即可投入试验。售后方面,勤卓在江苏、福建、上海、北京、陕西等地设有服务保障站,报修后 48 小时故障现场维修,减少设备停机对研发排期的影响。
结语
随着 AI 算力需求持续增长,芯片产品的可靠性验证标准也在逐步提高,三箱式高低温冷热冲击试验箱在研发体系中的作用将更加突出。勤卓环测将继续深耕环境可靠性测试领域,以扎实的产品与周全的服务,助力更多研发团队把好质量关,让更多产品带着可信的试验数据走向市场。