高低温试验箱之电子元器件高温贮存试验

    电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用;常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。在我们日常使用的电源、电子器材、手机电脑都有它的身影。在电子元器件的生产研发中经常会用到高低温试验箱；今天小编要和你聊一聊关于电子元器件高温贮存试验。

    电子元器件做高温贮存试验目的：通过高低温试验箱模拟环境温度变化提高电子元器件环境温度、湿度、温度循环等适应能力，加速元器件中可能发生或存在的化学反应（如由水蒸汽或其他离子所引起的腐蚀作用，表面泄漏、污染以及金-铝金属化合物的产生等），提前消除潜在缺陷。电子元器件的许多故障是由于体内和表面的各种物理化学变化引起的。当环境温度升高后，化学反应速率大大加快，故障过程也得到加速。有缺陷的元器件就会暴露。高温储存试验对表面污染、引线键合不良和氧化层缺陷有很好的筛选作用。

高温贮存试验原理：

高温储存是在试验箱中模拟高温条件，对元器件施加高温应力（无电应力），加快部件体内和表面各种物理化学变化的化学反应速率，加速故障过程，使有缺陷的部件尽快暴露；提前消除潜在缺陷。

高温储存筛选的特点：

（1）对于工艺和设计水平较高的成熟设备，由于设备本身非常稳定；优点是操作简便易行。可大批量进行试验筛选，投资少，筛选效果好，是目前常用的筛选试验项目。

（2）高温存储筛选效果，通过同温则二存企D，稳定元器件的性能，减少使用中的参数漂移。

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